一般來說是由于水泥原料礦物的成分及結(jié)構(gòu)復(fù)雜，樣片的制作因人而異及X熒光光譜儀本身測(cè)量的影響等，會(huì)對(duì)測(cè)量的度帶來影響。影響測(cè)量度的主要因素有：

　　一、標(biāo)樣選取代表性不夠;

　　二、樣片表面不清潔，有裂痕、樣片厚度與標(biāo)樣不一致等也會(huì)給分析帶來影響;

　　三、樣品的制作過程與標(biāo)樣不一致，如粉磨粒度不同、助磨劑的加入量不一致等帶來引起測(cè)量的誤差;

　　四、基體效應(yīng)，水泥工業(yè)中的原料都是一些不均勻粉末，來源不同的原料，其粒度、成分、礦物形態(tài)以及元素的干擾嚴(yán)重，基體效應(yīng)是影響X熒光光譜儀分析度的zui大因素。基體效應(yīng)主要有三種情況：

　?、兕w粒效應(yīng)，由粒度、粒度分布、顆粒形狀及顆粒內(nèi)部不均勻性引起的物理效應(yīng);

　?、诘V物效應(yīng)，化學(xué)成分相同的物質(zhì)由于結(jié)晶條件的差異而造成的晶體結(jié)構(gòu)不同，如石墨和金剛石，不同晶體結(jié)構(gòu)的同種元素產(chǎn)生不同強(qiáng)度的熒光X射線，從而造成誤差;

　?、墼亻g效應(yīng)，是指其他元素對(duì)待測(cè)元素的熒光X射線強(qiáng)度的影響，又叫吸收-增強(qiáng)效應(yīng)(基體吸收初級(jí)x射線束影響初級(jí)X射線對(duì)待測(cè)元素的激發(fā);基體吸收待測(cè)元素的熒光X射線束;基體元素放射出的熒光X射線束位于待測(cè)元素吸收限的短波側(cè)，被待測(cè)元素吸收激發(fā)出待測(cè)元素的特征譜線)。

　　在上述各種影響因素中，因制樣過程已較為完善，且人為因素帶來的誤差不可消除，因此繼續(xù)研究制樣過程來減小分析誤差已沒有很大的提升空間?；w效應(yīng)是帶來分析誤差zui主要的因素，且基體效應(yīng)是礦物的本身帶來的影響，礦物的成分和礦物結(jié)構(gòu)或形態(tài)直接關(guān)系顆粒效應(yīng)、礦物效應(yīng)、元素間干擾效應(yīng)。

　　所以，研究原料礦物的成分和形態(tài)對(duì)X熒光光譜儀測(cè)試的影響從根本上減小測(cè)量誤差、提高度的方法，對(duì)水泥質(zhì)量控制提供一定的理論支撐，具有一定的工業(yè)和現(xiàn)實(shí)意義。